La preparación de las muestras para análisis por rayos X. II. Difracción

Authors

  • F. Triviño Vázquez ICCET/CSIC
  • J. L. Sagrera Moreno ICCET/CSIC
  • J. Calleja Carrete ICCET/CSICi

DOI:

https://doi.org/10.3989/mc.1964.v14.i113.1790

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Published

1964-03-30

How to Cite

Triviño Vázquez, F., Sagrera Moreno, J. L., & Calleja Carrete, J. (1964). La preparación de las muestras para análisis por rayos X. II. Difracción. Materiales De Construcción, 14(113), 15–22. https://doi.org/10.3989/mc.1964.v14.i113.1790

Issue

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