[1]
Sagrera, J.L. 1984. Preparación de muestras para análisis por difracción de rayos X con el equipo Philips PW 1700. Materiales de Construcción. 34, 195 (Sep. 1984), 51–54. DOI:https://doi.org/10.3989/mc.1984.v34.i195.945.