Sagrera, José Luis. “Quantitative détermination of Aluminium and Silicon in SiO2 and Al2O3 by X Ray Fluorescence”. Materiales de Construcción 16, no. 123 (September 30, 1966): 23–30. Accessed May 2, 2024. https://materconstrucc.revistas.csic.es/index.php/materconstrucc/article/view/1702.