Difracción de rayos X. Aplicaciones a la calidad en construcción

Autores/as

  • F. Triviño Vázquez ICCET/CSIC

DOI:

https://doi.org/10.3989/mc.1974.v24.i155.1311

Resumen


La aplicación de la difracción de los rayos X a la técnica analítica supuso, en su día, un avance considerable en el arduo y casi siempre laborioso problema de la investigación cuali y cuantitativa de los componentes de una muestra. El no ser un método destructivo, la pequeña cantidad de muestra y la rapidez que aportan los sistemas electrónicos de registro, convierten a esta técnica en un poderoso instrumento de análisis y de control.

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Publicado

1974-09-30

Cómo citar

Triviño Vázquez, F. (1974). Difracción de rayos X. Aplicaciones a la calidad en construcción. Materiales De Construcción, 24(155), 63–84. https://doi.org/10.3989/mc.1974.v24.i155.1311

Número

Sección

Artículos