Mejoras obtenidas de la aplicación de la cámara de vacío Philips PW-1089 en los análisis cuantitativos por difracción de rayos X

Autores/as

  • J. L. Sagrera Moreno ICCET/CSIC

DOI:

https://doi.org/10.3989/mc.1968.v18.i132.1608

Resumen


El presente trabajo se realiza para comprobar las mejoras obtenidas en los análisis por difracción de rayos X, usando una cámara de vacío con ánodo de cobre y cromo respectivamente.

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Publicado

1968-12-31

Cómo citar

Sagrera Moreno, J. L. (1968). Mejoras obtenidas de la aplicación de la cámara de vacío Philips PW-1089 en los análisis cuantitativos por difracción de rayos X. Materiales De Construcción, 18(132), 41–46. https://doi.org/10.3989/mc.1968.v18.i132.1608

Número

Sección

Artículos