La preparación de las muestras para análisis por rayos X. II. Difracción

Autores/as

  • F. Triviño Vázquez ICCET/CSIC
  • J. L. Sagrera Moreno ICCET/CSIC
  • J. Calleja Carrete ICCET/CSICi

DOI:

https://doi.org/10.3989/mc.1964.v14.i113.1790

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Publicado

1964-03-30

Cómo citar

Triviño Vázquez, F., Sagrera Moreno, J. L., & Calleja Carrete, J. (1964). La preparación de las muestras para análisis por rayos X. II. Difracción. Materiales De Construcción, 14(113), 15–22. https://doi.org/10.3989/mc.1964.v14.i113.1790

Número

Vol. 14 Núm. 113 (1964)

Sección

Artículos

Licencia

Derechos de autor 1964 Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)

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