Difracción de rayos X. Aplicaciones a la calidad en construcción
DOI:
https://doi.org/10.3989/mc.1974.v24.i155.1311Resumen
La aplicación de la difracción de los rayos X a la técnica analítica supuso, en su día, un avance considerable en el arduo y casi siempre laborioso problema de la investigación cuali y cuantitativa de los componentes de una muestra. El no ser un método destructivo, la pequeña cantidad de muestra y la rapidez que aportan los sistemas electrónicos de registro, convierten a esta técnica en un poderoso instrumento de análisis y de control.
Descargas
Descargas
Publicado
Cómo citar
Número
Sección
Licencia
Derechos de autor 1974 Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución 4.0.
© CSIC. Los originales publicados en las ediciones impresa y electrónica de esta Revista son propiedad del Consejo Superior de Investigaciones Científicas, siendo necesario citar la procedencia en cualquier reproducción parcial o total.
Salvo indicación contraria, todos los contenidos de la edición electrónica se distribuyen bajo una licencia de uso y distribución “Creative Commons Reconocimiento 4.0 Internacional ” (CC BY 4.0). Consulte la versión informativa y el texto legal de la licencia. Esta circunstancia ha de hacerse constar expresamente de esta forma cuando sea necesario.
No se autoriza el depósito en repositorios, páginas web personales o similares de cualquier otra versión distinta a la publicada por el editor.
